当前位置：供求商机 S300B-二极管直流参数测试SMU源表
传统的半导体I-V特性测量方案通常是复杂且成本昂贵的，需要多种仪器配合完成测试，对不同仪器进行编程、同步、连接、测量和分析，既复杂又耗时，S系列数字源表可作为独立的恒压源或恒流源、伏特计、安培计和欧姆表，还可用作精密电子负载，其高性能架构允许其使用作为波形发生器、以及自动电流-电压(I-V)表征系统。极大缩短检测系统的开发、建立和维护的时间，二极管直流参数测试SMU源表认准普赛斯仪表
数字源表是一系列具有电流电压输出和测试功能的新型测试设备,S系列数字源表可大范围的使用在各类分立半导体器件特性测试中，如电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SIC等。本文介绍怎么样去使用该系列新产品建立二极管测试系统。
二极管在出厂前一定要进行三项直流参数测试：正向电压（VF)、击穿电压（VR）和反向漏流（IR）测试。通常上述测试需要几台仪器完成,如：数字表,电压源,电流源等。但仪器数目增多,必然引起测试速度下降,进而影响产量。使用普赛斯S系列数字源表,配合相应软件编程,可以简化检测系统,提高测试速度和质量,这对自动化二极管生产测试非常重要。
二极管直流参数测试SMU源表优势：◾ 性能强大-作为电压源和或电流源，并同步测量电流和或电压，支持四象限工作。可以限定电压或电流输出大小，预防器件损坏。覆盖0-3A的电流范围0-300V的电压范围，全量程测量精度0.03%。
◾ 灵活多样-支持两线制和四线制测量，更准确的低内阻量测;集成线性阶梯扫描、对数阶梯扫描、自定义扫描等模式;专业l-V特性及半导体参数测试软件。
◾ 易学实用-简化了如I-V和l-t/V-t曲线等各种应用的测量准备工作。电容式触摸屏图形用户界面(GUI),提供图形化和数字化两种测量结果为模式，便于使用和查看。
统的半导体I-V特性测量方案通常是复杂且成本昂贵的，需要多种仪器配合完成测试，对不同仪器进行编程、同步、连接、测量和分析，既复杂又耗时，还需占用大量测试台空间。
S系列数字源表可作为独立的恒压源或恒流源、伏特计、安培计和欧姆表，还可用作精密电子负载，其高性能架构允许其使用作为波形发生器、以及自动电流-电压(I-V)表征系统。极大缩短检测系统的开发、建立和维护的时间，同时节省测试架或测试台的宝贵“空间，降低购买检测系统的整体成本。
电源象限是指以电源输出电压为X轴、输出电流为Y轴形成的象限图。D一、三象限即电压电流同向，源表对其它设备供电，称为源模式；第二、四象限即电压电流反向，其它设备对源表放电，源表被动吸收流入的电流，且可为电流提供返回路径，称为阱模式。
与传统矩阵电源不同，S系列源表在同等功率下，客户可根据实际的需求，选择大电压小电流或小电压大电流输出。选择的量程不同，S系列源表的源/阱极限也有区别。
触摸屏幕上的任意图标，就会出现图像化设置屏幕。在测量前按照向导逐一设置，操作更直观。
分立器件特性测试：电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SiC、GaN等器件；能量与效率特性测试：LED/AMOLED、太阳能、电池、DC/DC转换器；传感器特性测试：电阻率、霍尔效应等；有机材料特性测试：电子墨水、印刷电子技术等；纳米材料特性测试：石墨烯、纳米线等；激光器特性测试：窄脉冲LIV检测系统；功率器件：静态检测系统；电流传感器：动静态参数测试系统；
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